全能型植物圖像分析儀\\植物圖像分析儀系統（全能型版）1、用途：用于植物年輪分析、根系分析、葉面積分析、病斑面積分析、蟲損葉面積分析、葉片葉色分析、作物冠層分析、瓜果剖切面分析等2、系統組成：成像裝置、分析軟件和電腦（電腦另配）

植物冠層圖像分析儀冠層分析系統用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關指標和參數。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數據，只操作一次即可，簡化了傳統測量方法要一天定點多次測量的繁復工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠層結構參數的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計算的障礙物。

年輪分析儀植物年輪分析系統標配光學分辨率1800 dpi×3600 dpi、A3的中晶FileScan 1860XL plus高速掃描儀。植物圖像分析測量精度（由掃描儀決定，可軟件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長度測量重現性誤差±0.25%；面積測量重現性誤差±0.25%；臺間測量差異±0.25%。測量總時間：30~60秒。用戶需另配計算機。

根系動態生長監測和顯微成像系統定時自動成像霧培、水培、瓊脂培養基培、土培、沙培的盆栽農作物根系，并動態監測其根系生長速度，動態跟蹤根系細微結構、根尖數和根毛變化，以及根尖病變情況，宏觀動態統計分析不同時刻點根系的整體發展變化，還可分析洗凈根系情況，獲得根系生長的動態數據，以便科學客觀地評價植物生長質量相應關鍵因素，如分析：光照、水肥、溫濕度環境對生長與抗逆性的影響。

杭州大吉光電儀器有限公司制造的根系分析系統也叫根系分析儀，根系掃描儀，可以自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積等，及其分布參數。

植物冠層分析儀可廣泛應用于農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（µmol㎡/秒）。